平面平晶|環(huán)行平面平晶|平行平晶 YDF-1 歡迎致電歐卡光學(xué)儀器 　　一、用途： 　　平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。 　　適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測。 　　二、主要技術(shù)規(guī)格： 　　1、平面平晶 YDF-1 標(biāo)準(zhǔn)外形尺寸 單位：mm 　　規(guī)格30 45 60 80 100 150 200 250 　　直徑30 45 60 80 100 150 200 250 　　高度15 15 20 20 25 30 40 45 　　特殊規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶可定做. 　　2、平面平晶制成兩種精度： 1級 和 2級 　　3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為： 　　直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm 　　直徑為 30至60mm 2級平晶 0.1 μm 　　直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm 　　直徑為 80至150mm 2級平晶 0.1 μm 　　更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)。 　　4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm 　　5、平面平晶測量工作應(yīng)在室溫2 0℃?℃條件下保持?jǐn)?shù)小時后進(jìn)行。