儀器的用途： ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射兩用偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業(yè)實驗儀器。用于不透明物明或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光。 儀器特點： 透反射偏光顯微鏡ORTHOLUX-Ⅱ POL MK，隨著光學技術的不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用范圍也越來越廣闊，許多行業(yè)，如化工的化學纖維，半導體工業(yè)以及藥品檢驗等等，也廣泛地使用偏光顯微鏡。ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反偏光顯微鏡就是非常適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品。本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。 技術參數： 名稱 規(guī)格 無應力平場消色差物鏡 透射物鏡 6.3X 16X 25X 63X 100X 反射物鏡 5X 10X 20X 50X 100X 目鏡 10X十字目鏡 試片 1?4λ試片 石膏1λ試片 云母1/4λ試片 石英楔子試片 測微尺 0.01mm 濾色片 藍色 鏡筒 三目觀察 (可接數碼相機、CCD) 系統(tǒng)簡介 偏光顯微鏡系統(tǒng)是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像，從而對偏光圖譜進行 分析等對圖片進行輸出、打印。 透反射式偏光系統(tǒng)主要由透射偏光顯微鏡和落射照明器組成，及計算機成像系統(tǒng)組成。而落射照明器也含有偏光系統(tǒng)，因此套系統(tǒng)含有兩套偏光系統(tǒng)，適合多種場地使用。